日立分析仪器（原英国牛津）CMI243精密测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术，CMI243式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲准确、精密的测量而着称。

测量技术：一般的测试方法，例如一般测厚仪商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的"升离效应"导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而牛津仪器将的基于相位电涡流技术应用到CMI243镀层测厚仪，使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3%以内的度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应化，使得测量 且不受零件的几何形状影响。另外，镀层测厚仪一般不需要在铁质底材上进行校准。
? 便携式、无损测量各种金属镀层
? 精度高、稳定性好
? 测量精度可与X射线测厚仪媲美
? 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
? 232接口，可连接打印机或电脑
探头  ECO-M锌镍均可测量
准确度  ±1%
分辨率  0.01mils(0.1um)
执行标准  ASTM B24 RAFT);BS 11
单位  公、英制自动转换
统计数据显示  读取次数、平均值、标准差、值、值、 终值
记忆储存  12400个数据
接口  RS-232
显示  液晶显示，字符高12.7mm
电池  9V电池
外型尺寸  14.9X7.94X3.02cm
重量  260g(含电池)
品牌  英国牛津仪器
产地  美国